最新消息 

👍 誠徵工科系碩士、博士 ( 丙組、丁組與己組 ) 新生 , 請至工科系綠能館504詳談!!

​👍 誠徵半導體學院碩士、博士 ( 元件組 ) 新生 , 請至工科系綠能館504詳談!!

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👍 2026 國際英文版學術教科書出版：Semiconductor Processes and Integration

      作者：吳永俊(Yung-Chun Wu)

      出版資訊: Cengage; 1st ed. 2026 edition

      ISBN: 9786267533420

👍 2024 5篇頂尖 IEEE 期刊論文發表(台灣頂尖): IEEE EDL 3篇, TED 2篇

​​👍 2024美國專利(與台積電共享)獲證: US 20240332386 A1 

👍 2023 專書發表：半導體製程與整合 
　  作者：吳永俊(Yung-Chun Wu), 孫崇哲(Chong-Jhe Sun), 顏孝丞(Siao-Cheng Yan)
　  出版資訊：2023年8月, 滄海圖書資訊

👍 恭賀!! 吳永俊教授 指導之計畫「三維原子級電子斷層掃描技術在前瞻半導體元件的應用」榮獲2023未來科技獎

👍 恭賀!! 吳永俊教授 指導之計畫「前瞻單晶片三維多層級堆疊之高密度積體電路關鍵技術」榮獲2022未來科技獎

👍 台灣 清華大學吳永俊教授-半導體製程與整合 YOUTUBE 線上課程，超過10萬人次觀看！

　  網址連結：https://reurl.cc/Kd8pjp

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👍 恭賀!! 本實驗室多位同學獲獎2021-2024 年台積電研究助理獎助金

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👍 2021年12月發表鐵電記憶體榮登IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS 封面 cover story 

     3D Diamond-Shape Ge Gate-All-Around Nanowire FETs
    IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, VOL. 42, NO. 12, December 2021

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👍 2021年9月發表鐵電記憶體榮登IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS 封面 cover story 

     High Speed and Large Memory Window Ferroelectric HfZrO2 FinFET for High-Density Nonvolatile Memory
    IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, VOL. 42, NO. 9, SEPTEMBER 2021

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👍 本實驗室榮獲2021中華民國專利證書：具超薄結晶性氧化鉿之閘極介電層的鐵電電晶體裝置

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👍 本實驗室榮獲2024美國專利證書：Semiconductor device and manufacturing method thereof !!!與台積電共同獲證!!!

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👍 本實驗室榮獲2025美國專利證書：Semiconductor device and method for forming the same !!!與台積電共同獲證!!!

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👍 本實驗室榮獲2026美國專利證書：Dielectric element and application of the same !!!與台積電共同獲證!!!

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👍 2019年世界首次製作出HZO厚度為2nm，可量產之負電容鰭式電晶體，其次臨界斜率(SS)小於60mV/dec。

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👍 恭賀!! 應屆畢業生孫崇哲、林育如、蔡孟儒博士 錄取台積電RD工程師。顏孝丞博士錄取力旺電子工程師

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👍 恭賀!! 近年來屆畢業生黃愷崴、張恒嘉、林采蓉、陳柏銨等多位碩士 錄取台積電工程師

👍 狂賀!! 2017 國際英文版TCAD模擬專書出版

• ​http://www.springer.com/gp/book/9789811030659

• https://www.amazon.com/TCAD-Simulation-CMOS-Nanoeletronic-Devices/dp/9811030650

• ISBN-13 : 978-9811030659 ISBN-10 : 9811030650

• 3D TCAD Simulation for CMOS Nanoeletronic Devices

• Publisher : Springer ; 1st ed. 2018 edition ( June 21, 2017 ) , Hardcover : 330 page​

👍 2016 專書發表 : 三維TCAD模擬CMOS奈米電子元件

• ​3D3D TCAD Simulation for CMOS Nanoeletronic Devices

• 作者 : 吳永俊 / 詹易叡

• ISBN : 9789865647353 滄海圖書

👍 榮登 IEEE International Electron Devices Meeting ( IEDM ) 國際最頂尖半導體元件​技術會議論文 2篇

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👍 榮登VLSI 國際最頂尖半導體元件技術會議論文2 篇

!!!與台積電共同獲證!!!